本发明公开了一种基于SAR方位向偏移的电离层层析构建方法,该方法基于原始SAR数据,首先采用距离‑多普勒成像原理实现三维SAR成像,其次分别获取差分干涉相位以及方位向偏移观测量,然后联合这两类观测量估计电离层相位屏,最后将电离层相位屏转化为垂直总电子含量变化量VTEC,顾及不同电离层高度的SAR影像即可实现电离层层析的构建。本发明所提供的方法能够实现高分辨率、高精度精细化电离层层析的获取,对深入认识电离层结构及其变化具有重要的意义。
咨询热线:020-38033421
传真号码:020-38061201
电子邮箱:jm@jiaquanip.cn
Copyright © 嘉权专利商标事务所 All Rights Reserved. 粤ICP备2023151901号