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一种氧化物薄膜晶体管栅电极及其制备方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
H01-基本电器元件
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN2017110572195
2017-11-01
发明专利
一种氧化物薄膜晶体管栅电极及其制备方法
华南理工大学
已授权

本发明属于显示器件技术领域,公开了一种氧化物薄膜晶体管栅电极及其制备方法。所述栅电极由依次层叠的衬底、铜合金薄膜的栅极主体层和ITO薄膜的栅极界面层构成。其制备方法为:在衬底上沉积20~250nm厚度的铜合金薄膜作为栅极主体层;然后在铜合金薄膜上沉积10~50nm厚的ITO薄膜作为栅极界面层。本发明制备的氧化物TFT栅电极具有高结合强度,高电学稳定性,低电阻率,刻蚀兼容性好,工艺简单,成本低廉的优点。

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