首页 > 专利商城 > 专利交易
基于增量局部残差最小二乘法的高光谱图像Gabor特征分类方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G06-计算技术
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
  • 专利详情
  • 专利摘要
  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2018106938019
2018-06-29
发明专利
基于增量局部残差最小二乘法的高光谱图像Gabor特征分类方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种基于增量局部残差最小二乘的高光谱图像Gabor特征分类方法,包括以下步骤:读取高光谱图像数据立方体h(x,y,b);使用给定参数(频率幅值和空谱空间方向)的Gabor滤波器对高光谱图像立方体进行滤波,得到特征图像立方体;获取特征图像立方体中已标注类别的像素点作为训练像素,未标记类别的像素点为测试像素;在当前Gabor特征下,利用增量局部残差最小二乘法依次更新重构系数矩阵,以及测试像素重构值与真实测试像素间的累积类别局部残差;清空当前Gabor特征图像数据立方体;在下一组给定的Gabor滤波器参数下,提取新的Gabor特征数据立方体,重复上述更新步骤,得到遍历给定Gabor特征参数集合后的最终类别局部残差;按照最小类别局部残差准则进行分类。

联系方式

咨询热线:020-38033421

传真号码:020-38061201

电子邮箱:jm@jiaquanip.cn

关注嘉权专利商标事务所

Copyright © 嘉权专利商标事务所 All Rights Reserved.    粤ICP备2023151901号   Sitemap   XML