本发明公开的面向集成电路封装检测的微焦点Ｘ射线图像的去噪方法，包含以下顺序的步骤：对输入图像的高斯预处理；利用差分曲率图将微焦点Ｘ射线观测图像分为平坦区和细节区；利用分区结果及差分曲率计算正则化算子及正则化参数；构建目标函数，利用基于近似的变步长算法对目标函数进行快速迭代求解。本发明的去噪方法，利用基于近似的变步长快速迭代求解算法求解，算法速度快，满足实际工业要求。