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滤光片缺陷特征参数选择的熵方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G06-计算技术
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CN2013104494769
2013-09-24
发明专利
滤光片缺陷特征参数选择的熵方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种滤光片缺陷特征参数选择的熵方法,包括:从缺陷滤光片图像中分割出包含缺陷的外接矩形,形成缺陷ROI;设置候选特征集F的元素,设置已选特征集S为空集;计算缺陷ROI特征值,构造样本集合;计算候选特征fifk与类C的归一化互信息SU(fifk,C);根据SU(fifk,C)最大值选出S的第一个元素s1;去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(fifk,C)小于阈值的候选特征;计算候选特征集F中每个候选特征fifk的评价函数J(fifk,C,S)的值;根据评价函数J(fifk,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素;去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(fifk,C,S)小于阈值的候选特征;判断候选特征集F是否空集;输出已选特征。

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