本实用新型公开了一种ＧａＮ的ＤＣ?ＤＣ测试装置，包括上下ＭＯＳＦＥＴ、输入输出电容、储能电感、控制ＩＣ、驱动ＩＣ、死区时间可调电路、上下管驱动电阻可调电路及测试点系统；其中上下ＭＯＳＦＥＴ、输入输出电容、储能电感、控制ＩＣ、驱动ＩＣ的功能及连接方式与传统的ＤＣ?ＤＣ测试装置一致，死区时间可调电路、上下管驱动电阻可调电路替代传统的ＤＣ?ＤＣ测试装置部分电路。本实用新型在传统的ＤＣ?ＤＣ测试装置的基础上增设了死区时间可调电路、上下管驱动电阻可调电路及测试点系统，使得测试装置死区时间可调、测试装置驱动ｔｕｒｎ?ｏｎ电阻、ｔｕｒｎ?ｏｆｆ电阻可调以及测试装置关键信号测试点布局更灵活合理。　１