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发射参考调制序列的超声波检测方法及设备
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G01-测量、测试
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
  • 专利详情
  • 专利摘要
  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2019112926418
2019-12-16
发明专利
发射参考调制序列的超声波检测方法及设备
华南理工大学
已授权

本申请实施例涉及一种发射参考调制序列的超声波检测方法及设备。本申请实施例的发射参考调制序列的超声波检测方法包括:生成一串基带序列,并根据该基带序列生成包括第一检测序列和第二检测序列的检测基带信号;将检测基带信号调制为超声波后输出;对反射或透射信号进行解调获取基带解调信号;从所述基带解调信号中提取第一信号片段和第二信号片段;获取每组第一信号片段和第二信号片段中相同位的基带码值相同的数量N3或不同的数量N4,根据N3或N4判断所述第一检测序列和所述第二检测序列的反射或透射信号是否到达。本申请实施例的发射参考调制序列的超声波检测方法可以比较准确地开展检测、判定超声波的反射或透射信号的渡越时间。

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